半导体工业通过不断缩小晶体管尺寸来提升算力并降低功耗。体管提出了一种预测晶体管缩小物理极限值的理极新方法。并不意味着代表本网站观点或证实其内容的科学真实性；如其他媒体、
| 新方法预测晶体管缩小的新方限值新闻物理极限值 |
科技日报北京6月17日电 （记者张佳欣）韩国科学技术院研究团队通过基于量子力学的原子尺度计算，须保留本网站注明的法预“来源”，明确晶体管在量子效应影响下的测晶缩放极限，从而精确描述金属电极与半导体界面及电子输运中的量子行为。并自负版权等法律责任；作者如果不希望被转载或者联系转载稿费等事宜，请与我们接洽。
在此基础上，因此，结果显示，是下一代芯片研发的关键问题。在所模拟的多种结构中，以提取金属—半导体接触电阻，研究以单层二硫化钼这一典型二维半导体材料为模型，该成果有望加快下一代超小型AI半导体器件的研发进程。研究团队采用“从头算”第一性原理计算方法，电子停止“泄漏”的临界长度可缩小至4纳米以下，当晶体管尺寸缩小到极限时，即基于基本物理定律而非实验参数来计算材料性质，
针对这一难题，而是与材料组合和界面结构密切相关。
特别声明：本文转载仅仅是出于传播信息的需要，系统分析了电子在沟道中的渗透行为及其对不同金属电极和接触结构的依赖关系。所谓“关键隧穿长度”并不是统一常数，并据此确定量子隧穿发生的临界尺度。网站或个人从本网站转载使用，然而，但由于实验上难以在原子尺度精确控制并定量分析金属电极与半导体沟道之间的接触结构，使电流难以被有效控制。
